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產(chǎn)品中心

當(dāng)前位置:首頁產(chǎn)品中心分析儀器SD-DIL 402 Expedis熱膨脹分析儀

熱膨脹分析儀
產(chǎn)品簡介:

熱膨脹分析儀 SD-DIL 402 Expedis Supreme 集成了熱膨脹測量領(lǐng)域技術(shù),為寬廣應(yīng)用領(lǐng)域內(nèi)的專業(yè)級的應(yīng)用而設(shè)計。DIL Expedis 系列的所有型號均基于 NanoEye 測量系統(tǒng),在測量范圍與精度兩方面達到了新的高度。

產(chǎn)品型號:SD-DIL 402 Expedis

更新時間:2024-11-17

廠商性質(zhì):代理商

訪問量:1062

服務(wù)熱線

4006981718

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產(chǎn)品介紹

熱膨脹儀 SD-DIL 402 Expedis Supreme   基本功能

軟化點檢測
軟件控制的力的調(diào)整(包括:線性力,恒定力,斜變力,步階力)
調(diào)制力
密度測量
用于溫度校正和檢測熱效應(yīng)的c-DTA® 功能
速率控制燒結(jié) RCS
曲線識別,通過數(shù)據(jù)庫對比識別未知的ΔL/L0曲線
密度測量,能夠測量樣品密度的連續(xù)變化,可應(yīng)用于固體、液體、熔體、粘稠樣品(如涂料),以及用于計算各向異性材料的體膨脹。

 

熱膨脹儀 SD-DIL 402 Expedis Supreme   技術(shù)參數(shù)

溫度范圍: -180 ... 2000°C(不同爐體)

升溫速率: 0 ... 100°C/min(不同爐體)

測量氣氛: 動態(tài)或靜態(tài);氧化、還原、惰性、真空

樣品形態(tài): 固體、液體、粉末

樣品載荷: 10mN ... 3N,可變,可調(diào)制(選配)

選配擴展功能: c-DTA®、譜圖檢索、速率控制燒結(jié)

量程: ±25000μm

測量分辨率: 0.1nm

測試模式: 單樣品/雙樣品,樣品長度自動檢測

Multitouch技術(shù) : 標(biāo)配

Nanoeye位移傳感及載荷控制技術(shù): 標(biāo)配

雙爐體: 選配

 

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