一、 核心技術(shù)綜述

高靈敏度能量色散X射線熒光光譜儀（HS XRF®）

     全聚焦雙曲面彎晶衍射X射線管出射譜中高強(qiáng)特征X射線，將X射線光管出射譜單色化并聚焦入射到樣品一點(diǎn)，因此從樣品出射的X射線除了樣品中的元素被激發(fā)產(chǎn)生的熒光X射線和單色化入射譜線的散射線外，不存在X射線管韌致輻射所引起的連續(xù)散射背景，從而大幅降低元素?zé)晒馍渚€的散射線背景。

單波長激發(fā)-能量色散X射線熒光光譜儀與當(dāng)前*的硅漂移探測(cè)器（SDD）是天作之合，硅漂移探測(cè)器計(jì)數(shù)率最高達(dá)到100萬CPS，所探測(cè)樣品熒光射線的立體角也受到接受晶體面積的限制，單波長聚焦激發(fā)降低入射射線背景射線強(qiáng)度的同時(shí)，又聚焦激發(fā)，提升SDD探測(cè)的樣品元素?zé)晒馍渚€立體角，大幅提升元素?zé)晒馍渚€信噪比。

單波長激發(fā)-能量色散X射線熒光光譜儀將元素檢出限降低至亞ppm水平，從而滿足微量和痕量元素分析需求。

1) 快速基本參數(shù)法（Fast FP^®）與*數(shù)學(xué)模型（Advanced mathematical models縮寫為Advanced MM）

      XRF法面臨的難題是基體效應(yīng)、元素間吸收-增強(qiáng)效應(yīng)、標(biāo)準(zhǔn)樣品欠缺等問題，從而對(duì)于不同類型樣品的定量分析帶來挑戰(zhàn)。

       快速基本參數(shù)法（Fast FP^®）通過對(duì)X射線熒光光譜從產(chǎn)生到探測(cè)的各個(gè)環(huán)節(jié)進(jìn)行計(jì)算，將物理學(xué)明確的物理現(xiàn)象建立相應(yīng)的數(shù)學(xué)模型，基本參數(shù)法消除了由于不同類型樣品基體差異所產(chǎn)生的背景差異，減少分析誤差，通過少數(shù)標(biāo)準(zhǔn)品的校正即可得到元素精確定量分析結(jié)果。

安科慧生歷經(jīng)十幾年的積累，成功將快速基本參數(shù)法與*數(shù)學(xué)模型應(yīng)用于XRF定量分析中，極大提升元素定量精度和樣品適應(yīng)性。

一、 高靈敏度能量色散X射線熒光光譜儀工作條件

電源：220V±5%，50Hz±1% ；室內(nèi)溫度：15-35℃；

相對(duì)濕度：≤85%；地線：接地電阻≤4Ω

三、主要技術(shù)指標(biāo)

1、原理：依賴全聚焦型雙曲面彎晶技術(shù)實(shí)現(xiàn)X射線光管出射譜單色化聚焦激發(fā)樣品，降低X射線管散射線背景干擾，大幅降低元素檢出限，達(dá)到對(duì)樣品中痕量元素分析能力；

2、光源系統(tǒng)：全聚焦型雙曲面彎晶技術(shù)，單色化聚焦入射樣品；

3、X射線管：微焦斑X射線光管，最大功率<12W，最大激發(fā)電壓<70KV；

4、樣品口：最大樣品直徑30mm，具有自旋裝置，可以減少由于樣品不均勻造成的分析誤差；自動(dòng)開關(guān)蓋設(shè)計(jì)，軟件控制；

5、探測(cè)器：硅漂移探測(cè)器，窗口面積≥50mm2能量分辨率優(yōu)于139eV@Mn Kα，最大計(jì)數(shù)率＞1000Kcps；

6、射線安全：樣品蓋與光管高壓電源聯(lián)動(dòng)，具有自動(dòng)鎖定功能，儀器周圍與環(huán)境背景一致；

7、氣氛保護(hù)：可以加氫氣或氦氣氣氛保護(hù)系統(tǒng)，提升輕元素檢出能力；

8、具備無標(biāo)定量分析能力，基本參數(shù)法與*數(shù)學(xué)模型定量精度：主量元素1%-90%，相對(duì)誤差±10%；雜質(zhì)元素0.01%-1%，相對(duì)誤差±15%；微量元素0.0001%-0.01%，相對(duì)誤差±20%；

9、可以依賴標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)建立校準(zhǔn)曲線，實(shí)現(xiàn)更精確定量能力；

10、元素分析范圍：Na-U

11、 檢出限：S/Cl LOD=10mg/kg，Pb/As LOD=0.07mg/kg，Cd LOD=0.06mg/kg

（水基體，元素分析時(shí)間300秒）

12、重復(fù)性：Pb/As/Cd 1=5.0mg/kg RSD＜5%

（土壤基體，元素分析時(shí)間300秒，連續(xù)分析7次）